1. Designing, testing, and diagnostics- join them
پدیدآورنده : International Test conference )3991: Baltimore, Md.(
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Testing- congresses,، Electronic digital computers- Circuits- Testing-Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
1993
2. Designing, testing, and diagnostics--join them : International Test Conference 1993 proceedings :October 17-21, 1993, Convention Center, Baltimore, Maryland, USA
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Automatic checkout equipment-- Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
1993
3. Electronics reliability and measurement technology :
پدیدآورنده : edited by Joseph S. Heyman
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Reliability-- Congresses,Integrated circuits-- Testing-- Congresses,Nondestructive testing-- Congresses
رده :
TK7874
.
E486
1988
4. Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Reliability- Congresses,، Non- destructive testing- Congresses
5. ICMTS 93 : proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures: March 22-25, 1993, Sitges, Barcelona, Spain
پدیدآورنده : sponsored by the IEEE Electron Devices Society
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Integrated circuits - Testing - Congresses , Semiconductors - Testing - Congresses , Transistors - Testing - Congresses
رده :
TK
7874
.
I3233
1993
6. Memory & LSI: digest of papers
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : Testing ، Integrated circuits,Congresses ، Integrated circuits-- Large scale integration,Congresses ، Semiconductor storage devices-- Testing,Congresses ، Microprocessors-- Testing
رده :
TK
7874
.
S42
1976
7. Proceedings
پدیدآورنده : International Test Conference
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Computer storage devices-- Congresses,، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Semiconductor storage devices-- Testing-- Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
8. Proceedings of the...International Conference on Microelectronic Test Structures
پدیدآورنده : IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
I3233
1994
9. Proceedings of the ... International Conference on Microelectronic Test Structures
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : Congresses ، Integrated circuits-- Testing
رده :
TK
7874
.
I3233a
10. Proceedings of the 1st European Test Conference, Paris, April 12-14, 1989
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits -- Testing -- Congresses,، Automatic checkout equipment -- Congresses
رده :
TK
7874
.
E795
11. Reliability physics
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : Congresses ، Electronic apparatus and appliances-- Reliability,Congresses ، Electronic apparatus and appliances-- Testing,Congresses ، Integrated circuits-- Reliability,Congresses ، Integrated circuits-- Testing
رده :
TK
7870
.
S95
12. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده : edited by Fabrizio Lombardi and Mariagiovanna Sami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits,Ultra large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
N345
1987
13. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده :
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Congresses,، Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Testing-- Congresses
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
14. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده : NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI )7891: Como, Italy(
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Ultra large scale integration- Testing- Congresses
رده :
TK
7874
.
N345
1987
15. Testing and diagnosis of VLSI and USLI
پدیدآورنده : Edited by Fabrizio Lombardi and Maria Giovannasami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing-Congresses
رده :
TK
7874
.
N345
1987
16. 25th anniversary compendium of papers from International Test Conference
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Electronic digital computers-- Circuits-- Testing-- Congresses
رده :
TK
7874
.
I593
1994
